平頭微升微量進(jìn)樣器

 微量進(jìn)樣器/平頭微升微量進(jìn)樣器/微升微量進(jìn)樣器 型號(hào)：TC-011872 
 微量進(jìn)樣器可供科研.化工.煉油.醫(yī)院等單位作分析使用。特別適宜作氣相色譜儀.液相色譜儀液體進(jìn)行分析，是一種*的精密器械。其總?cè)萘空`差±5%。氣密性能承受0.2mpa。為了達(dá)到延長進(jìn)樣器的使用壽命，進(jìn)樣器分為無存液與有存液兩種，現(xiàn)將使用中應(yīng)注意事項(xiàng)作以下說明：  
一.0.5 µL-5µL無存液微量進(jìn)樣器  
    微量進(jìn)樣器/平頭微升微量進(jìn)樣器/微升微量進(jìn)樣器 1.切忌重堿性溶液洗滌，以免玻璃受腐蝕失重和不銹鋼零件受腐蝕損壞而引起漏水漏氣。  
   2.本進(jìn)樣器是無存液之進(jìn)樣器。芯子（不銹鋼絲）直接通到針*，故而不會(huì)出現(xiàn)寄存溶量，但使用后應(yīng)立即清潔處理，避免芯子受污而卡死。  
   3.溶量指示芯子拉動(dòng)不得過AG圖案，若不慎拉過圖案和全部拉出外套而塞不進(jìn)，可重新裝配，但裝配時(shí)必須先旋出針尖螺母，再耐心地把芯子（不銹鋼絲）先從硅橡膠墊圈中心穿過，再對(duì)準(zhǔn)針尖孔，慢慢旋上針尖螺母，再推進(jìn)芯子，不準(zhǔn)直接串入，以免不銹鋼絲折彎。  
   4.本進(jìn)樣器的氣密性依靠針尖部位的硅橡膠墊圈密封。故使用時(shí)期較長后，墊圈易損或老化會(huì)影響氣密性，必須進(jìn)行調(diào)換，否則，將會(huì)影響容量精度和重復(fù)性。  
   5.本進(jìn)樣器的針尖不得在400℃以上的高溫下工作，更不宜用火直接燒，以免針尖退火而失去穿戳能力。  

  
二.10 µL-100µL有存液微量進(jìn)樣器  
    1.切忌重堿性溶液洗滌，以免玻璃受腐蝕失重和不銹鋼零件受腐蝕而影響漏水漏氣。  
    2.本進(jìn)樣器系有存液之進(jìn)樣器，因而在吸取溶液時(shí)針尖管浸在溶液中來回拉幾次，將針尖內(nèi)的氣泡排出（使用時(shí)必須排盡全部氣泡），使用者必須注意，否則將會(huì)影響分析正確性和容量精度。  
     3.進(jìn)樣器針尖為固定式，不得拆下。針尖內(nèi)孔為微小，因此不宜吸取有較粗懸浮物質(zhì)的溶液。使用后應(yīng)立即清潔處理，防止針尖堵塞。  
     4.若遇針尖堵塞，宜用φ0.1mm不銹鋼絲耐心串通，不能用火直接燒，防止針尖受高熱而退火失去穿戳能力。  
     5.本進(jìn)樣器不得在芯.套之間濕度不足時(shí)（將干未干時(shí)）將芯子多次來回拉動(dòng)，以免發(fā)生卡住和磨損而造成損壞。  
     6.如發(fā)現(xiàn)進(jìn)樣器內(nèi)有不銹鋼氧化物（發(fā)黑現(xiàn)象）影響正常使用時(shí)，可在不銹鋼芯子上蘸少量肥皂水塞入進(jìn)樣器內(nèi)，來回來幾次，就可去掉，而再洗清后即可

產(chǎn)品名稱：膠質(zhì)層指數(shù)測定儀 膠質(zhì)層指數(shù)檢測儀 產(chǎn)品型號(hào)：GZY-4B

膠質(zhì)層指數(shù)測定儀 膠質(zhì)層指數(shù)檢測儀型號(hào)： GZY-4B 
本系列設(shè)備主要用于煤焦化多種指標(biāo)的測定，均符合標(biāo)準(zhǔn) 
    GZY-4B型 膠質(zhì)層指數(shù)測定儀  
    本測定儀是用來測定煙煤的膠質(zhì)層指數(shù)的儀器，符合GB/T 479-2000標(biāo)準(zhǔn)。本測定儀能自動(dòng)控制兩爐爐溫，并繪出動(dòng)態(tài)控溫曲線，能自動(dòng)記錄和計(jì)算兩爐煤杯內(nèi)煤樣體積變化曲線和終收縮度X值，并能計(jì)算出膠質(zhì)層大厚度Y值。  
·計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)  
·試驗(yàn)爐體  
·部件 ·打印機(jī)（選配）

產(chǎn)品名稱：涂層測厚儀  產(chǎn)品型號(hào)：TC-1250

涂層測厚儀  型號(hào)：TC-1250

應(yīng)用范圍

本儀器采用磁性測厚法，可以方便無損的測量鐵磁性材料上的非磁性材料涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

三、技術(shù)參數(shù)

注意：臨界厚度小于工件鐵基厚度大于1mm時(shí)，其膜層厚度的測量不受鐵基厚度影響。