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光耦參數(shù)測(cè)試儀

發(fā)布時(shí)間： 2018-10-11　　點(diǎn)擊次數(shù)： 454次

光耦參數(shù)測(cè)試儀型號(hào)：JFY3010A

詳細(xì)介紹 
※概述: 
JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀，是一種專門(mén)用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用安全方便,電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家或電子元件供應(yīng)商來(lái)料檢測(cè)。 
※             測(cè)量元件類(lèi)型:三管類(lèi)型4腳 6腳光耦 
※             測(cè)量參數(shù):

參數(shù)指標(biāo)表:

參數(shù)項(xiàng)

測(cè)試參數(shù)

測(cè)試條件設(shè)置

輸入正向壓降(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐壓(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

傳輸比(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

飽和壓降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

輸出漏電流(Iceo)0-1mAVCE=20V
輸入反向漏電流(IR)0-1mAVR=4V

 

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